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QNix8500智能化測(cè)厚儀
影響QNix測(cè)厚儀精度的因素:
1、基體金屬磁性質(zhì)
磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響(在實(shí)際應(yīng)用中,洛氏硬度計(jì)低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的),為了避免熱處理和冷加工因素的影響,應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn);亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。
2、基體金屬厚度
每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度,測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。
3、基體金屬電性質(zhì)
基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響,而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。
4、邊緣效應(yīng)
本儀器對(duì)試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。
5、曲率
試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此,在彎曲試件的表面上測(cè)量是不可靠的。
6、試件的變形
測(cè)頭會(huì)使軟覆蓋層試件變形,因此在這些試件上測(cè)出可靠的數(shù)據(jù)。
7、表面粗糙度
基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙程度增大,影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差,每次測(cè)量時(shí),在不同位置上應(yīng)增加測(cè)量的次數(shù),以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙,還必須在未涂覆的粗糙度相類(lèi)似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn);或用對(duì)基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后,再校對(duì)儀器的零點(diǎn)。
【產(chǎn)品名稱(chēng)】:QNix8500涂層測(cè)厚儀
【產(chǎn)品品牌】:德國(guó)尼克斯
【搜索關(guān)鍵詞】:QNix8500
【搜索關(guān)鍵詞】:QNix8500,德國(guó)尼克斯,測(cè)厚儀
【超聲波測(cè)厚儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介】:德國(guó)尼克斯QNix8500涂鍍層測(cè)厚儀一體分體通用,帶菜單操作,德國(guó)尼克斯QNix8500涂鍍層測(cè)厚儀是一種智能化的測(cè)厚儀。德國(guó)尼克斯 QNix 8500涂鍍層測(cè)厚儀可通過(guò)更換探頭來(lái)滿(mǎn)足不同的測(cè)量需求,可存儲(chǔ)數(shù)據(jù),并且可與計(jì)算機(jī)進(jìn)行無(wú)線(xiàn)傳輸。
產(chǎn)品優(yōu)點(diǎn):
- 只需調(diào)零,無(wú)需校準(zhǔn)
- 測(cè)量精度高
- 一體分體通用
- 可配多種探頭
- 中英文菜單操作
- 智能化
- 帶存儲(chǔ),并可連計(jì)算機(jī)對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行處理分析
- 可連接薄鍍層探頭,對(duì)極薄的鍍層厚度測(cè)量,誤差小于±3um?
QNix8500 涂層測(cè)厚儀配有強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理軟件:
1.實(shí)現(xiàn)儀器與電腦之間無(wú)線(xiàn)傳輸數(shù)據(jù)。
2.直觀(guān)的讀取儀器存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)。
3.可將數(shù)據(jù)導(dǎo)入 Excel表格并生成曲線(xiàn)圖及柱狀圖。
4.實(shí)現(xiàn)在線(xiàn)測(cè)量,同步保存測(cè)量數(shù)據(jù)。
5.可通過(guò)電腦設(shè)置儀器參數(shù)。
探頭:
1、QNix8500 涂層測(cè)厚儀普通探頭可直接裝入主機(jī)中使用,也可選配探頭連接線(xiàn)分別連接探頭和主機(jī)做分體機(jī)使用。
2、QNix8500 無(wú)線(xiàn)探頭,可與主機(jī)分離,探頭與主機(jī)之間無(wú)線(xiàn)傳輸數(shù)據(jù),zui遠(yuǎn)傳輸距離可達(dá) 20m,尤其適合高空作業(yè)等特殊場(chǎng)合,形成:探頭-主機(jī)-計(jì)算機(jī)三者的無(wú)線(xiàn)通訊。
3、QNix8500 薄鍍層探頭 MI FE 500 是專(zhuān)門(mén)用于測(cè)量極薄的涂鍍層厚度的磁感性探頭。它的測(cè)量精度和重復(fù)性為您測(cè)量很薄的覆層厚度提供了有效手段。它可以用來(lái)測(cè)量所有磁性基體上的非磁性涂鍍層,分辨率高達(dá) 0.01μm。